高加速应力试验

 高加速应力试验
高加速应力试验是IBM公司的Gunn、Malik和Mazumdar于1981年首次提出的一个全新的试验方法[ 30 ] 。高加速应力试验是在电子技术高速发展的基础上出现的。它主要用来代替传统的85℃/85%RH的温度/湿度(Temperature Humidity Bias , THB)试验,能够大量缩短试验时间。如THB 需要花费1000 h才能完成的试验,采用HAST只需96～100h。正是由于HAST的上述优点,近些年来,越来越受到人们的欢迎,国外有些公司开始用HAST代替传统的THB试验[ 31 ] 。至今,我国还没有开展高加速应力试验研究的报道。
 研究展望
加速可靠性试验能够缩短试验周期,使产品进行市场的周期大大缩短。根据对各类加速可靠性试验公开发表文献的分析,结合我国的技术水平和研究现状,对我国加速可靠性试验的研究提出以下几点建议。
1) 积极开展高加速应力试验研究,争取替代传统的温度/湿度试验。
2) 对可靠性强化试验的关键技术如试验指南、相关设备研制、试验数据的统计分析等方面进行进一步深入研究,
3) 对复杂系统的加速寿命试验进行进一步的探讨,对加速寿命试验的统计分析精度、试验效率、优化设计问题进行进一步深入研究。
4) 进一步推进加速可靠性试验技术的工程应用研究