德州桌上型高低温试验机

 
1.德州桌上型高低温试验机目的与范围：
为确保公司外购的半导体传感器的质量满足公司产品需求，使公司IQC工作有章可循，特制定本规程。本规程适用于公司定制的各种半导体传感器的IQC检验、质量评价过程。
2.德州桌上型高低温试验机检验依据与规则：
2.1检验依据
采取GB/T2828.\2003规定的正常检查一次抽样、一般水平E的抽样方案，A类缺陷AQL为1.0,B类缺陷AQL为1.5,c类缺陷AQL为I.So
2.2转移规则
按照GB/T2828.1-2003标准规定，公司质量部和供货方均可根据以往检验情况提出放宽检验或加严检验，但需要双方协商一致后实施。
2.3检测参数
按照每一种半导体传感器的技术指标要求进行检测，这些指标包括分辨率、重复性、非线性度、量程、响应时间和迟滞。
2.4不合格品
单位产品中的缺陷累计分数LR为1.0时，判定为不合格品。
3.德州桌上型高低温试验机检验程序：
3.1参数测试
3.1.1接通半导体传感器测试系统电源，进行校准后开始测试。
3.l.2调整测试系统，分别测试分辨率、非线性度、量程、响应时间参数。
3.1.3调整测试系统，分别测试重复性、迟滞参数。
3.1.4存储测试结果，每一批检验完成后，打印测试结果。


4.德州桌上型高低温试验机外观检验：
在下列规定检测条件下，进行外观检验。
①照明条件：800-1 000流明，色温6300~6 700 K，显色指数85%。
②观察角度z被检测面与视线在45。范围内旋转，左右转动15。范围。
③观察距离：人眼和被测物表面距离为30cm左右。
④观察时间：运10So
⑤检验员视力：裸视或矫正视力在l.O以上且无色盲。
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